A.N=D2/4λ
B.N=F/πλ
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A.增加12dB
B.增加19dB
C.變?yōu)樵瓉淼?倍
D.變?yōu)樵瓉淼?倍
A.減少12dB
B.減少19dB
C.減少3倍
D.變?yōu)樵瓉淼?/9
A.鈦酸鋇
B.硫酸鋰
C.鈮酸鋰
D.石英
A.壓電晶片的壓電應變常數(shù)大,則說明該晶片的發(fā)射性能好
B.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大則說明該晶片的發(fā)射性能好
C.壓電晶片的壓電應變常數(shù)大,則說明該晶片的接收性能好
D.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大,則說明該晶片的接收性能好
A.壓電晶片的壓電應變常數(shù)大,則說明該晶片的發(fā)射性能好
B.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大,則說明該晶片的發(fā)射性能好
C.壓電晶片的壓電應變常數(shù)大,則說明該晶片的接收性能好
D.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大,則說明該晶片的接收性能好
最新試題
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時,不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
當探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實際位置。
缺陷垂直時,擴散波束入射至缺陷時回波較高,而定位時就會誤認為缺陷在軸線上,從而導致定位不準。
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
當探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進行適當?shù)难a償,會使定量誤差增加,精度下降。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴重,定量會受到影響。
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準相應垂直刻度或讀數(shù)不準,會使缺陷定位誤差增加。