A.掃查時,觀察是否出現(xiàn)異常的固定回波
B.在參考試塊上檢查裂紋信號是否有明顯降低
C.掃查時,觀察熒光屏基線上噪聲信號是否靜止或消失
D.以上都是
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A.一次底面回波幅度是否變化
B.底面回波位置是否變化
C.多次底面回波幅度是否變化
D.雜波是否增加
A.橫波
B.縱波
C.表面波
D.以上全部
A.螺栓材料狀態(tài)改變
B.螺栓尺寸改變
C.螺栓已經(jīng)斷裂
D.都有可能
A.移動探頭至裂紋顯示波高與人工反射體波高相同的點(diǎn);
B.移動探頭至裂紋顯示波高與底面回波高度相同的點(diǎn);
C.移動探頭至裂紋顯示波高50%的點(diǎn);
D.以上都可以。
A.0.8mm
B.1.2mm
C.2.0mm
D.3.2mm
最新試題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
儀器水平線性影響()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。