A.移動(dòng)探頭至裂紋顯示波高與人工反射體波高相同的點(diǎn)；
B.移動(dòng)探頭至裂紋顯示波高與底面回波高度相同的點(diǎn)；
C.移動(dòng)探頭至裂紋顯示波高50%的點(diǎn)；
D.以上都可以。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.0.8mm
B.1.2mm
C.2.0mm
D.3.2mm
A.等于聲波在工件中的傳播時(shí)間；
B.大于聲波在工件中的傳播時(shí)間；
C.小于聲波在工件中的傳播時(shí)間；
D.以上都不對(duì)。
A.掃查面上多余的耦合劑會(huì)產(chǎn)生假顯示
B.探頭與斜楔接觸不良會(huì)降低靈敏度
C.熒光屏上的固定回波有可能是斜楔內(nèi)產(chǎn)生的反射波
D.以上都有可能
A.底波后7.6D
B.底波前7.6D
C.底波后0.76D
D.底波前0.76D
A.緊鄰孔波之后的位置
B.緊鄰始波之后的位置
C.緊鄰孔波之前的位置
D.任何位置都有可能
最新試題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
儀器水平線性影響（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。