單項選擇題下面有關(guān)探頭尺寸選擇的敘述，正確的是（）
A.壓電晶片的尺寸大，則輻射功率大，可檢測距離大，指向性好，檢測效率較高
B.壓電晶片的尺寸大，則近場長度大，始波占寬較大，近表面分辨率降低，雜波多，信噪比低，遠場分辨率降低
C.壓電晶片尺寸小，則近場長度短，始波占寬小，近表面分辨率高，雜波少，信噪比高，遠場分辨率好
D.壓電晶片尺寸小，則輻射功率小，可檢測距離小，指向性差，檢測效率低
E.以上都對
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1.單項選擇題組合雙晶直探頭的壓電晶片前裝有（）
A.阻尼塊
B.匹配線圈
C.延遲塊
D.保護膜
2.單項選擇題對于單晶斜探頭，在使用中經(jīng)常要校驗的參數(shù)是（）
A.入射點或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是
3.單項選擇題軟保護膜探頭使用于（）的工件表面。
A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
4.單項選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān)，晶片越薄則（）
A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對
5.單項選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測厚儀利用的是（）
A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法
最新試題
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
題型：單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
題型：單項選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項選擇題
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
題型：單項選擇題
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
題型：單項選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項選擇題