單項(xiàng)選擇題組合雙晶直探頭的壓電晶片前裝有()
A.阻尼塊
B.匹配線圈
C.延遲塊
D.保護(hù)膜
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1.單項(xiàng)選擇題對于單晶斜探頭,在使用中經(jīng)常要校驗(yàn)的參數(shù)是()
A.入射點(diǎn)或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是
2.單項(xiàng)選擇題軟保護(hù)膜探頭使用于()的工件表面。
A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
3.單項(xiàng)選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān),晶片越薄則()
A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對
4.單項(xiàng)選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測厚儀利用的是()
A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法
5.單項(xiàng)選擇題評價(jià)超聲波探傷儀在規(guī)定靈敏度下發(fā)現(xiàn)并顯示最小缺陷能力的指標(biāo)是()
A.分辨率
B.時(shí)基線性
C.垂直線性
D.動態(tài)范圍
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調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
題型:單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
題型:單項(xiàng)選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型:單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型:單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項(xiàng)選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型:單項(xiàng)選擇題