A.無損檢測(cè)應(yīng)與非破壞性檢測(cè)相結(jié)合
B.正確選用實(shí)施無損檢測(cè)的時(shí)間
C.正確選用最適當(dāng)?shù)臒o損檢測(cè)方法
D.綜合應(yīng)用各種無損檢測(cè)方法
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.小晶片、小K值斜探頭
B.大晶片、小K值斜探頭
C.小晶片、大K值斜探頭
D.大晶片、大K值斜探頭
A.大角度斜探頭
B.小角度斜探頭
C.水浸探頭
D.直探頭
A.聲能集中，靈敏度高
B.有效檢測(cè)距離有限制
C.聲束小，每次掃查區(qū)域小
D.以上選項(xiàng)全部
A.聲束指向角
B.探頭近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.發(fā)射強(qiáng)度和對(duì)小缺陷的檢出能力
D.以上選項(xiàng)全部
A.A型脈沖穿透式
B.A型脈沖反射式
C.A型連續(xù)穿透式
D.A型連續(xù)反射式
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。