A.飽和點(diǎn)
B.拐點(diǎn)
C.居里點(diǎn)
D.臨界點(diǎn)
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A.K=sinβ
B.K=cosβ
C.K=ctgβ
D.K=tgβ
A.軸對(duì)稱的
B.左右對(duì)稱，上下不對(duì)稱的
C.左右對(duì)稱，上下對(duì)稱的
D.以上都不正確
A.產(chǎn)生遲到波
B.產(chǎn)生幻象波
C.改變儀器水平線性
D.改變儀器垂直線性
A.垂直線性
B.動(dòng)態(tài)范
C.靈敏度
D.以上選項(xiàng)都對(duì)
A.發(fā)射強(qiáng)度高
B.檢測(cè)速度快
C.可編程性
D.穩(wěn)定性好
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
儀器水平線性影響（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。