實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。

調節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

靈敏度采用試塊調節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。