A.散射衰減加吸收衰減
B.擴散衰減加吸收衰減
C.擴散衰減加散射衰減
D.以上都不對
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A.球面波
B.柱面波
C.活塞波
D.平面波
A.缺陷定位誤差大
B.不能有效確定缺陷大小
C.不能判定缺陷性質(zhì)
D.以上選項都對
A.θ0=70λ/D
B.θ0=70D/λ
C.θ0=70f/D
D.θ0=70/λD
A.隨著與波源之間距離的增加，聲壓呈單調(diào)下降
B.與波源之間的距離≥3N時，聲壓分布規(guī)律近似于球面波
C.波的干涉現(xiàn)象在遠場區(qū)可忽略不計
D.遠場區(qū)的聲壓與距離的平方成反比
A.在近場區(qū)內(nèi)，存在聲壓極大極小值
B.在未擴散區(qū)，聲壓值是恒定的
C.近場區(qū)內(nèi)缺陷反射聲壓總是不變，所以不能定量
D.波源振動頻率越小，近場區(qū)長度越大
最新試題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
儀器水平線性影響（）。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。