A.上面板脫層
B.蜂窩芯損傷
C.下面板脫層
D.內(nèi)裂
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A.發(fā)射和接受波形變化
B.振幅和相位變化
C.諧振頻率和振幅變化
D.電渦流變化
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C.諧振頻率和振幅變化
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A.反射法
B.穿透法
C.諧振法
D.聲振法
A.蜂窩積水
B.蜂窩板的脫層
C.蜂窩損傷
D.都可以
A.50Hz-500Hz
B.500Hz-50KHz
C.35KHz–500KHz
D.500KHZ–5MHz
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。