A.當薄層厚度為其半波長的奇數(shù)倍時，反射波最高
B.當薄層厚度為其半波長的偶數(shù)倍時，反射波最高
C.當薄層厚度為其四分之一波長的奇數(shù)倍時，反射波最高
D.當薄層厚度為其四分之一波長的偶數(shù)倍時，反射波最高
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A.白點是一種非金屬夾雜物
B.白點通常發(fā)生在鍛件中心部位
C.白點的回波清晰尖銳往往有多個波峰同時出現(xiàn)
D.一旦判斷是白點缺陷該鍛件即為不合格
A.焦距越小，聚焦效果就越好
B.焦距應(yīng)比近場長度長
C.線聚焦探頭檢測速度快
D.點聚焦探頭檢測靈敏度較高
A.有時幻象波在整個掃描線上連續(xù)移動
B.有時幻象波在掃描線上是穩(wěn)定的且位于底波之前
C.用耦合劑拍打工件底面時，此波無變化
D.用耦合劑拍打工件底面時，此波跳動或波幅降低
A.可不考慮材質(zhì)衰減差修正
B.可不考慮探傷面耦合差補償
C.可采用計算法或AVG曲線法
D.可不使用試塊
A.垂直線性
B.水平線性
C.衰減器精度
D.電噪聲
最新試題
對于比正常縱波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無機物絕緣體高溫同軸電纜。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達式進行比較可知，在反射體直徑相同的情況下，圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進入試件的檢測的方法。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小，聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點和氣孔等缺陷。
檢測曲面工件時，探頭與工件接觸有兩種情況，一是平面與曲面接觸，另一種是將探頭斜楔磨成曲面，探頭與工件曲面接觸。
為了減少側(cè)壁的影響，必要時可采用試塊比較法進行定量，以便提高定量精度。