A.垂直線性
B.水平線性
C.衰減器精度
D.電噪聲
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A.儀器的水平線性
B.探頭聲束偏離
C.斜楔磨損
D.K值誤差
A.水平線性
B.垂直線性
C.衰減器精度
D.采樣頻率
A.反射橫波與入射波平行但方向相反
B.入射角為30°時,反射率最高
C.入射角為45°時,反射率高
D.入射角為60°時,反射率最低
A.聲源輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內
B.聲源輻射的超聲波,總是在聲束中心軸線上的聲壓為最高
C.超聲場中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的
D.在超聲場的未擴散區(qū),可將聲源輻射的超聲波看成平面波,平均聲壓不變
A.采用中心導體法磁化
B.僅適用于直流電
C.顯示的孔數(shù)越多,靈敏度越高
D.采用連續(xù)法
最新試題
為了減少側壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
經變形橫波轉換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點和氣孔等缺陷。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
檢測曲面工件時,探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
當探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實際位置。
衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
在檢測晶粒粗大和大型工件時,應測定材料的衰減系數(shù),計算時應考慮介質衰減的影響。
電磁超聲探頭在工件的表層內產生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。