A.白點(diǎn)是一種非金屬夾雜物
B.白點(diǎn)通常發(fā)生在鍛件中心部位
C.白點(diǎn)的回波清晰尖銳往往有多個(gè)波峰同時(shí)出現(xiàn)
D.一旦判斷是白點(diǎn)缺陷該鍛件即為不合格
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A.焦距越小，聚焦效果就越好
B.焦距應(yīng)比近場長度長
C.線聚焦探頭檢測速度快
D.點(diǎn)聚焦探頭檢測靈敏度較高
A.有時(shí)幻象波在整個(gè)掃描線上連續(xù)移動(dòng)
B.有時(shí)幻象波在掃描線上是穩(wěn)定的且位于底波之前
C.用耦合劑拍打工件底面時(shí)，此波無變化
D.用耦合劑拍打工件底面時(shí)，此波跳動(dòng)或波幅降低
A.可不考慮材質(zhì)衰減差修正
B.可不考慮探傷面耦合差補(bǔ)償
C.可采用計(jì)算法或AVG曲線法
D.可不使用試塊
A.垂直線性
B.水平線性
C.衰減器精度
D.電噪聲
A.儀器的水平線性
B.探頭聲束偏離
C.斜楔磨損
D.K值誤差
最新試題
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重，定量會(huì)受到影響。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計(jì)算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知，在反射體直徑相同的情況下，圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
對于圓柱體而言，外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時(shí)，入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波，返回探頭接收，會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。
衍射時(shí)差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。
為了減少側(cè)壁的影響，必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量，以便提高定量精度。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí)，若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力，則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加，導(dǎo)致聲速減慢。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。