A.有時(shí)幻象波在整個掃描線上連續(xù)移動
B.有時(shí)幻象波在掃描線上是穩(wěn)定的且位于底波之前
C.用耦合劑拍打工件底面時(shí),此波無變化
D.用耦合劑拍打工件底面時(shí),此波跳動或波幅降低
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A.可不考慮材質(zhì)衰減差修正
B.可不考慮探傷面耦合差補(bǔ)償
C.可采用計(jì)算法或AVG曲線法
D.可不使用試塊
A.垂直線性
B.水平線性
C.衰減器精度
D.電噪聲
A.儀器的水平線性
B.探頭聲束偏離
C.斜楔磨損
D.K值誤差
A.水平線性
B.垂直線性
C.衰減器精度
D.采樣頻率
A.反射橫波與入射波平行但方向相反
B.入射角為30°時(shí),反射率最高
C.入射角為45°時(shí),反射率高
D.入射角為60°時(shí),反射率最低
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最新試題
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測量,測試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位,必要時(shí)可加匹配線圈。
由于超聲波對進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。
當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。