單項選擇題一般來說，在同一材料中相同晶片尺寸與頻率的橫波較縱波的分辨力（）。
A.差
B.好
C.相同
D.以上都不對
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1.單項選擇題折射橫波投射到工件與空氣界面并反射時，存在（）現(xiàn)象。
A.反射點向前滑移
B.反射點向后滑移
C.沒有反射點滑移
D.以上都不是
2.單項選擇題折射橫波投射到工件與空氣界面并反射時，存在反射點向前滑移現(xiàn)象，折射角越大，水平滑移量也將（）。
A.越大
B.越小
C.水平滑移量的大小與折射角無關
D.水平滑移量的大小與入射點相關
3.單項選擇題在橫波探傷中，缺陷的實際埋藏深度H、缺陷到探頭入射點的距離（聲程）S以及缺陷在探測面上投影點至探頭入射點的距離（水平距離）X以及折射角β和工件厚度T之間有如下幾個關系式，哪一個是用于直射法的（注：H’為超聲探傷儀示波屏以深度校正（定標）時基線上讀得的深度數(shù)值）（）？
A.X=H?tgβ
B.H=2T-H’和X=H’?tgβ
C.H=H’-2T和X=H’?tgβ
4.單項選擇題在橫波探傷中，缺陷的實際埋藏深度H、缺陷到探頭入射點的距離（聲程）S以及缺陷在探測面上投影點至探頭入射點的距離（水平距離）X以及折射角β和工件厚度T之間有如下幾個關系式，哪一個是用于一次反射法的（）（注：H’為超聲探傷儀示波屏以深度校正（定標）時基線上讀得的深度數(shù)值）？
A.X=H?tgβ
B.H=2T-H’和X=H’?tgβ
C.H=H’-2T和X=H’?tgβ
5.單項選擇題在橫波探傷中，缺陷的實際埋藏深度H、缺陷到探頭入射點的距離（聲程）S以及缺陷在探測面上投影點至探頭入射點的距離（水平距離）X以及折射角β和工件厚度T之間有如下幾個關系式，哪一個是用于二次反射法的（注：H’為超聲探傷儀示波屏以深度校正（定標）時基線上讀得的深度數(shù)值）（）？
A.X=H?tgβ
B.H=2T-H’和X=H’?tgβ
C.H=H’-2T和X=H’?tgβ
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項選擇題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項選擇題
調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
題型：單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項選擇題