A.K值減小
B.K值增大
C.對K值無影響，對前沿尺寸影響較大
D.對入射聲波頻率影響較大
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A.未焊透
B.未融合
C.無缺陷
D.探頭雜波
A.橫波端角反射法適于測量上表面開口缺陷
B.用串列式雙探頭法測量缺陷下端點時存在死區(qū)
C.用端點衍射法可以方便地精確測定缺陷自身高度
D.6dB法測量精度高，但操作困難
A.為了使主聲束垂直于缺陷，一般采用K2探頭
B.采用K1斜探頭
C.對上端點距表面距離小于5mm的缺陷，測量誤差小
D.采用點聚焦探頭可以提高測試精度
A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.因反射信號很小而導致漏檢
A.遠場效應
B.受分辨力影響
C.盲區(qū)
D.受反射波影響
最新試題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。
調(diào)節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
儀器水平線性影響（）。