穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

斜探頭楔塊上部和前部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。

檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過(guò)波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。