測(cè)定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測(cè)試。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。