斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。