軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

測定組合靈敏度時，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測試。