與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

液浸法的優(yōu)點(diǎn)之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測(cè)結(jié)果重復(fù)性好。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。

測(cè)定儀器垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。