與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。