多項(xiàng)選擇題水浸探頭的主要特點(diǎn)是檢測(cè)時(shí)探頭與工件不直接接觸探頭部份或全部浸入液體中,常見的有()
A.水浸平探頭
B.水浸橫波探頭
C.水浸表面波探頭
D.水浸斜探頭
E.水浸聚焦探頭
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.多項(xiàng)選擇題接觸聚焦按聚焦方式不同分為()
A.透鏡式聚焦
B.反射式聚焦
C.曲面晶片式聚焦
D.透射式聚焦
E.折射式聚焦
2.多項(xiàng)選擇題相同探頭,當(dāng)缺陷直徑一定時(shí),缺陷波高隨距離的變化程度較快的是()
A.點(diǎn)狀形
B.球形
C.圓柱形
D.圓片形
E.條形
3.多項(xiàng)選擇題試件中實(shí)際缺陷的形狀多種多樣,通常把缺陷的形狀簡(jiǎn)化為()
A.圓片形
B.球形
C.圓柱形
D.點(diǎn)狀形
E.條形
4.多項(xiàng)選擇題超聲波探傷為了減少側(cè)壁反射的影響,應(yīng)選用()探頭。
A.晶片直徑大
B.頻率低
C.指向性好
D.晶片直徑小
E.頻率高
5.多項(xiàng)選擇題超聲波檢測(cè)中,耦合劑的()對(duì)回波的高度有一定的影響。
A.濃度
B.價(jià)格
C.形狀
D.聲阻抗
E.耦合層厚度
最新試題
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
題型:判斷題
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
題型:判斷題
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
題型:判斷題
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
題型:判斷題
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
題型:判斷題
衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
題型:判斷題
對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓實(shí)際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會(huì)使定量誤差增加。
題型:判斷題
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
題型:判斷題
缺陷相對(duì)反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
題型:判斷題
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。
題型:判斷題