A.濃度
B.價格
C.形狀
D.聲阻抗
E.耦合層厚度
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.垂直線性
B.水平線性
C.晶片尺寸
D.頻率與K值
E.探頭形式
A.始波寬度
B.入射點(diǎn)
C.聲束寬度
D.回波頻率
E.K值
A.聲速
B.聲壓
C.聲強(qiáng)
D.內(nèi)應(yīng)力
E.外應(yīng)力
A.工件表面粗糙度
B.工件材質(zhì)
C.工件表面形狀
D.工件邊界
E.工件溫度
A.水平線性差異
B.垂直線性的差異
C.動態(tài)范圍的差異
D.分辨率的差異
E.儀器調(diào)節(jié)不當(dāng)
最新試題
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實(shí)時成像,快速分析。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測量,測試時儀器抑制置“零”或“開”位,必要時可加匹配線圈。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時,入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會使缺陷定位誤差增加。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會使定量誤差增加,精度下降。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時,若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。