A.100%比25%
B.100%比50%
C.100%比12.5%
D.不確定
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橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式，試從圖中判斷排列方式3有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷？（）
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式，試從圖中判斷排列方式2有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷（）
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式，試從圖中判斷排列方式1有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷（）
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
是橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式，試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測平行于聲入射面的內(nèi)部缺陷
（）
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線，探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1：2聲程調(diào)整的話（入射點對‘0’，滿刻度200），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況（）
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
最新試題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
（）是影響缺陷定量的因素。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。