橫波雙探頭檢測(cè)技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式3有利于檢測(cè)以下哪種內(nèi)部缺陷?()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
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橫波雙探頭檢測(cè)技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式2有利于檢測(cè)以下哪種內(nèi)部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
橫波雙探頭檢測(cè)技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式1有利于檢測(cè)以下哪種內(nèi)部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
是橫波雙探頭檢測(cè)技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測(cè)平行于聲入射面的內(nèi)部缺陷
()
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線,探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1:2聲程調(diào)整的話(入射點(diǎn)對(duì)‘0’,滿(mǎn)刻度200),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線,探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點(diǎn)對(duì)‘0’,滿(mǎn)刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
最新試題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。