是橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測平行于聲入射面的內(nèi)部缺陷
()
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
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圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1:2聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度200),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R25圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R25圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況?()
A.25、100
B.25、50、100
C.25、50、75、100
D.以上都可能
最新試題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。