儀器水平線性影響（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現一系列的波，這種波是（）。

（）是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據產品技術要求或有關標準來確定。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。

在對缺陷進行定量前，必須先調節(jié)（）。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。