A.反射縱波
B.反射橫波
C.折射縱波和折射橫波
D.以上都有
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A.入射波波型
B.入射角度
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
D.以上都是
A.R+T=1
B.T=1-R
C.R=1-T
D.以上全對(duì)
A.與界面兩側(cè)材料的聲速有關(guān)
B.與界面兩側(cè)材料的密度有關(guān)
C.與界面兩側(cè)材料的聲阻抗有關(guān)
D.與入射波的波型有關(guān)
A.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速
B.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)
D.以上全部
A.一樣
B.傳播縱波時(shí)大
C.傳播橫波時(shí)大
D.無法確定
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
單探頭法容易檢出()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()是影響缺陷定量的因素。