已知某系統(tǒng)的根軌跡草圖如圖所示。
（1）寫出開環(huán)傳遞函數(shù)G（s）；
（2）確定使系統(tǒng)穩(wěn)定的K的取值區(qū)間，確定使系統(tǒng)動態(tài)過程產(chǎn)生衰減振蕩的K的取值區(qū)間；
（3）利用主導(dǎo)極點的位置，確定是否通過K的取值使動態(tài)性能指標(biāo)同時滿足ts≤8秒，σ%≤30%。
（4）若該系統(tǒng)的統(tǒng)動態(tài)性能指標(biāo)不能滿足設(shè)計要求，試考慮增加什么校正環(huán)節(jié)，可以改善系統(tǒng)的動態(tài)性能？寫出校正環(huán)節(jié)形式（不需要具體數(shù)據(jù)），繪校正后根軌跡草圖，說明理由。
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關(guān)于系統(tǒng)特性下列說法錯誤的是（）
一個實際的即物理上可實現(xiàn)的線性系統(tǒng)，其傳遞函數(shù)必然是嚴(yán)格真有理分式，但社會等廣義系統(tǒng)不受此限制。（）
在頻率法校正中，串聯(lián)滯后校正的實質(zhì)是利用校正裝置的（）。
系統(tǒng)的相角裕量越大，超調(diào)越（）；截至頻率越高，快速性越（），抗高頻干擾的能力越（）。
對于典型二階系統(tǒng)，當(dāng)系統(tǒng)為欠阻尼時，其階躍響應(yīng)呈現(xiàn)（）。
采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對作用于系統(tǒng)的擾動沒有補償作用。（）
用根軌跡法進行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進行設(shè)計，所以，在校正裝置設(shè)計之后，需要進行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點對系統(tǒng)動態(tài)性能的影響。正因為降階處理的粗略性，設(shè)計初確定主導(dǎo)極點位置時需要留出（）。
系統(tǒng)局部反饋通路中接入的校正裝置稱為（）校正裝置。
滯后校正能夠在開環(huán)比例系數(shù)不降低的前提下，降低（）頻段和（）頻段的開環(huán)增益而不影響（）頻段。
對于最小相位系統(tǒng)G（s）H（s），當(dāng)s沿奈氏路徑從-j0變化到+j0時，若G（s）H（s）的奈氏曲線以半徑為無窮大順時針轉(zhuǎn)過π弧度，則該系統(tǒng)的類型為（）。