單項選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到()。
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對
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1.單項選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)()。
A、探頭耦合面幾何尺寸來決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對
2.單項選擇題采用雙晶直探頭檢驗大口徑“管座角焊縫”時,調節(jié)探傷靈敏度應采用()。
A、底波計算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以
3.單項選擇題直接接觸法探傷可以使用()。
A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以
4.單項選擇題下列()晶片發(fā)射縱波的近場區(qū)最長。
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
5.單項選擇題以下()1MHz探頭通常具有最佳的時間或垂直距離的分辨力。
A、無背襯石英探頭
B、帶酚醛樹脂背襯的石英探頭
C、帶酚醛樹脂背襯的鈦酸鋇探頭
D、帶環(huán)氧樹脂背襯的硫酸鋰探頭
最新試題
當波束中心線與缺陷面()且回波最()時,移動探頭使波束中心(),回波高度當隨之下降。
題型:單項選擇題
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型:單項選擇題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
題型:單項選擇題
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構成。
題型:單項選擇題
根據(jù)檢測對象和目的的不同,渦流檢測儀器一般可分為()、渦流電導儀和渦流測厚儀三種。
題型:單項選擇題
各類渦流檢測儀器的()和結構各不相同。
題型:單項選擇題
當波束不再與缺陷相遇,則回波()
題型:單項選擇題
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進行掃查。
題型:單項選擇題
渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
題型:單項選擇題
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關信息。
題型:單項選擇題