單項(xiàng)選擇題對(duì)于圓盤(pán)形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
A.周長(zhǎng)方向
B.長(zhǎng)度方向
C.圓周方向
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1.單項(xiàng)選擇題掃查方式一般視試件的（）而定。
A.形狀
B.形狀及入射方向
C.入射方向
D.方向
2.單項(xiàng)選擇題當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
A.理論計(jì)算
B.頻率單一
C.消失
D.聲稱(chēng)
3.單項(xiàng)選擇題當(dāng)波束中心線(xiàn)與缺陷面（）且回波最（）時(shí)，移動(dòng)探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。
A.正交；高；偏離
B.正交；低；偏離
C.交叉；高；偏離
D.正交；高；脫離
4.單項(xiàng)選擇題波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）
A.最弱；上升
B.最強(qiáng)；下降
C.試驗(yàn)；下降
D.正交；高
5.單項(xiàng)選擇題屏高的意義是指回波呈（）狀態(tài)時(shí)的高度值。
A.飽和
B.一定
C.不飽和
D.良好
最新試題
渦流檢測(cè)線(xiàn)圈的互感線(xiàn)圈一般由（）構(gòu)成。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線(xiàn)移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線(xiàn)在缺陷中部時(shí)波高的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的（）和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
各類(lèi)渦流檢測(cè)儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線(xiàn)作成實(shí)用AVG曲線(xiàn)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線(xiàn)進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃查方式一般視試件的（）而定。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題