A.對(duì)于分辨力要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
B.對(duì)于衰減大的情況,選擇寬頻帶儀器
C.對(duì)于定位要求高的情況,選擇水平線性好的儀器
D.以上都正確
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A.檢測(cè)大厚度件,選擇較低的頻率有利于減少聲程衰減
B.檢測(cè)小厚度件,選擇較高的頻率有利于提高表面缺陷的檢測(cè)能力
C.檢測(cè)表面粗糙件,選擇較低頻率有利于減少表面散射損耗
D.以上都正確
A.儀器的頻帶寬度
B.檢測(cè)頻率
C.探頭
D.以上都是
A.儀器的頻帶寬度
B.檢測(cè)頻率
C.聲入射方向
D.以上都是
A.100%比25%
B.100%比50%
C.100%比12.5%
D.不確定
A.100%比25%
B.100%比50%
C.100%比12.5%
D.不確定
最新試題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()是影響缺陷定量的因素。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。