判斷題20世紀90年代初期使用的第一臺CMP設備是用樣片估計拋光時間來進行終點檢測的。
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圖a中M1和M2為某CMOS工藝中的兩個NMOS管,M1的W/L=12μm/6μm,M2的W/L=4μm/2μm,其它物理參數(shù)及偏置均相同。圖b中給出了M1的漏極電流Id1隨Vgs的變化曲線,請畫出Id2的大致變化,并說明Id1和Id2有什么不同,并解釋不同的主要原因。
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設計一個CMOS差分放大器電路,寫出其對應的SPICE描述語句并作差模電流-電壓特性分析。
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什么是電阻率?它的單位是什么(國際標準單位制)?
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目前集成電路版圖設計的主流工具有哪些?
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從天然硅中獲得達到生產(chǎn)半導體器件所需純度的SGS要經(jīng)過()等步驟。
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由硅片生產(chǎn)的半導體產(chǎn)品,又被稱為()。
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集成電容主要有幾種結(jié)構(gòu)?
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利用2μm×6μm的多晶硅柵極覆蓋在4μm×12μm薄氧化層的正中間構(gòu)成一個MOS管,已知Cox=5×10-4pF/μm2,估算柵極電容。
題型:問答題