A、小于C60強度等級時為0.95
B、小于C60強度等級時為1.05
C、小于C60強度等級時為0.85
D、不小于C60強度等級時應由試驗確定
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A、試驗能否得到有效結(jié)果,尚需視折斷面在試件中所處位置而定。
B、同組3個試件測值中,最大值和最小值與中間值的差值均超過中間值的10%時,該組試件的試驗結(jié)果無效。
C、同組3個試件測值中,最大值或最小值如有1個且僅有1個與中間值的差值超過中間值的15%時,取中間值作為該組試件的抗折強度值。
D、不總是能把同組3個試件測值的算術(shù)平均值作為該組試件的抗折強度值。
A、抗折試驗過程中,加荷速度應前慢后快
B、抗折試驗過程中,加荷速度應前快后慢
C、抗折試驗過程中,加荷應保持均勻、連續(xù)
D、抗折試驗過程中,因砼抗拉性能差,加荷應緩慢進行
A、<C30強度等級的砼加荷速度取每秒0.02~0.05MPa
B、≥C30且<C60強度等級的砼加荷速度取每秒0.05~0.08MPa
C、≥C60強度等級的砼加荷速度取每秒0.08~0.10MPa
D、A、B、C選項都不對
A、小于C60強度等級的邊長100mm試件為0.95
B、小于C60強度等級的邊長200mm試件為1.05
C、小于C60強度等級的邊長100mm試件為0.85
D、不小于C60強度等級的砼應由試驗確定
A、同組3個試件測值中,最大值和最小值與中間值的差值均超過中間值的15%時,該組試件的試驗結(jié)果無效。
B、同組3個試件測值中,最大值和最小值與中間值的差值均超過中間值的10%時,該組試件的試驗結(jié)果無效。
C、同組3個試件測值中,最大值和最小值與中間值的差值均超過中間值的20%時,該組試件的試驗結(jié)果無效。
D、不總是能把同組3個試件測值的算術(shù)平均值作為該組試件的劈裂抗拉強度值。
最新試題
屬于晶體缺陷中面缺陷的是()
下列是晶體的是()。
最有效的復合中心能級位置在Ei附近;最有利陷阱作用的能級位置在()附近,常見的是少子陷阱。
多晶硅的生產(chǎn)方法主要包含:()1)冶金法2)硅烷法3)重摻硅廢料提純法4)西門子改良法5)SiCl4法6)氣液沉淀法7)流化床法
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