A、T=r2
B、T=1-r2
C、T=1+r
D、T=1-r
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A、縱波
B、橫波
C、表面波
D、切變波
A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)
B、與界面二邊材料的密度有關(guān)
C、與界面二邊材料的聲速有關(guān)
D、與入射聲波波型有關(guān)
A、透射能量大于入射能量
B、反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成180º
C、超聲波無(wú)法透入水中
D、以上都不對(duì)
A、能量守恒定律在這里不起作用
B、透射能量大于入射能量
C、A與B都對(duì)
D、以上都不對(duì)
A、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減
B、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和投射
C、在傳播時(shí)的散射
D、擴(kuò)散角大小
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。