（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

超聲檢測對缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

（）可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。

儀器水平線性影響（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。