A.6db
B.9db
C.12db
D.以上都不是
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A.高
B.低
C.相同
A.不變
B.降低
C.升高
A.1/2倍
B.1/4倍
C.1/2.8倍
D.1/5倍
A.端角反射低谷
B.過強(qiáng)的端角反射
C.不需要考慮
A.產(chǎn)生61°反射時(shí),縱波入射角與橫波反射角之和為90°
B.產(chǎn)生61°反射時(shí),縱波入射角為61°,橫波反射角為29°
C.產(chǎn)生61°反射時(shí),聲波入射角為29°,縱波反射角為61°
D.產(chǎn)生61°反射時(shí),其聲程是恒定的
最新試題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。