A.頻率范圍、掃描深度、放大倍數(shù)。
B.頻率范圍、放大倍數(shù)、分辨率。
C.垂直線性、水平線性、分辨率。
D.重量、體積大小、靈敏度
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A.使用低頻率
B.使用高頻率
C.使用直徑小的探頭
D.涂上粘性小的油
A.當超聲波的波長遠大于金屬晶粒大小時
B.當超聲波的波長等于或小于金屬晶粒大小時
C.當超聲波的頻率過低或晶粒過小時
D.當螢光屏上不出現(xiàn)草從回波時
當超聲波斜入射至界面時，發(fā)生反射與折射，并發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，其關(guān)系遵守斯涅耳定律：
此定律適用范圍的正確說法是（）
A.只適用于入射波是橫波的情況
B.只適用于入射波是縱波的情況
C.只適用于折射波是橫波的情況
D.適用于縱波與橫波的的折射與反射情況
A.提高探傷靈敏度及分辨力
B.增加穿透能力
C.與探傷儀匹配減小噪聲
D.提高抗干擾能力
最新試題
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。