A.聲程距離較大時(shí)，可能將動(dòng)態(tài)波形I 判為動(dòng)態(tài)波形II
B.探測(cè)面為曲面時(shí)，點(diǎn)狀缺陷回波可能顯示動(dòng)態(tài)波形II
C.體積狀缺陷也可能顯示動(dòng)態(tài)波形II
D.線性缺陷也可能顯示動(dòng)態(tài)波形II
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A.按照附錄F 的規(guī)定測(cè)定聲能傳輸損耗差。
B.對(duì)缺陷進(jìn)行定量檢測(cè)時(shí)，以掃查靈敏度測(cè)定。
C.用絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度。
D.指示長(zhǎng)度小于10mm 的缺陷按5mm 計(jì)。
A.直探頭檢測(cè)波高為φ2mm+5dB 評(píng)為II 級(jí)，
B.斜探頭檢測(cè)波高為φ1×6-6dB 評(píng)為II 級(jí)，
C.直探頭檢測(cè)波高為φ2mm+8dB 評(píng)為I 級(jí)，
D.斜探頭檢測(cè)波高為φ1×6-2dB 評(píng)為II 級(jí)，
A.采用晶片直徑為φ20mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。
B.采用晶片直徑為φ14mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。
C.采用晶片直徑為φ18mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè)，對(duì)比試塊的曲率半徑可為100mm。
D.采用晶片直徑為φ22mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè)，對(duì)比試塊的曲率半徑可為84mm。
A.掃查靈敏度為φ3-6dB
B.用有機(jī)玻璃作斜楔時(shí)，斜探頭的入射角大致在28° ~57° 之間
C.掃查靈敏度為φ2-6dB
D.對(duì)厚度小于或等于600mm 鍛件檢測(cè)時(shí)，不考慮材質(zhì)衰減
A.若缺陷回波幅度大于或等于相應(yīng)對(duì)比試塊人工缺陷回波基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線，則判為不合格
B.若缺陷回波幅度等于基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線，則判為不合格
C.對(duì)縱向缺陷和橫向缺陷檢測(cè)時(shí)，掃查靈敏度均應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度提高6dB
D.若缺陷回波幅度高于基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線，則判為不合格
最新試題
機(jī)械品質(zhì)因子Qm越小，則脈沖寬度越小，分辨率就越高。
斜探頭探測(cè)焊縫時(shí)，在室內(nèi)溫度為18℃時(shí)，測(cè)定探頭K 值和調(diào)節(jié)掃描線比例，實(shí)際探測(cè)工件時(shí)的環(huán)境溫度為35℃，則檢測(cè)顯示的回波深度值為（）。
若工件材質(zhì)衰減不考慮，則聲程為150mm 直徑為1mm 的球孔與聲程為300mm，直徑為4mm 的球孔回波幅度相差（）。
雙晶直探頭的探測(cè)區(qū)為表面下的菱形區(qū)，菱形區(qū)的中心離表面距離隨入射角增大而增大。
根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對(duì)厚200mm 鋼板用2.5P20Z 探頭探測(cè)可利用鋼板無(wú)缺陷完好部位第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度，不考慮材質(zhì)衰減，下列敘述正確的是（）。
超聲波探頭發(fā)出的超聲波可視為球面波，示波屏上各次底面反射波的高度之比近似符合1：1/3：1/5。
根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，關(guān)于掃查靈敏度的敘述正確的是（）。
利用聲透鏡制作的聚焦探頭，要求聲透鏡中聲速大于透聲楔塊中聲速。
長(zhǎng)軸類鋼鍛件從圓周面探測(cè)，常出現(xiàn)三角回波，利用三角回波出現(xiàn)的情況，可對(duì)軸類鋼鍛件作出判斷，下面哪種說(shuō)法正確（）？
根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對(duì)鋁及鋁合金承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^檢測(cè)，下列敘述正確的是（）。