A.采用晶片直徑為φ20mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè),對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。
B.采用晶片直徑為φ14mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè),對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。
C.采用晶片直徑為φ18mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè),對(duì)比試塊的曲率半徑可為100mm。
D.采用晶片直徑為φ22mm 的探頭對(duì)環(huán)縫檢測(cè),對(duì)比試塊的曲率半徑可為84mm。