A.使第二次界面波落在零件一次底波之后
B.使聲波在水中的衰減盡可能的小
C.使上表面的盲區(qū)盡可能的小
D.以上都是
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A.在零件中形成橢圓型聲場(chǎng)
B.在時(shí)基線上不會(huì)出現(xiàn)底面回波
C.在上下表面可能會(huì)產(chǎn)生反射位移
D.以上都是
A.必須確認(rèn)探頭折射角度和入射點(diǎn)
B.零件越薄時(shí)，使用的橫波角度也相應(yīng)越大
C.有三種時(shí)間基線的調(diào)整方法
D.以上都是
A.相同頻率下，橫波比縱波的分辨力低
B.相同頻率下，橫波比縱波的穿透力低
C.與縱波一樣，橫波聲場(chǎng)近場(chǎng)區(qū)也存在干擾
D.與縱波一樣，側(cè)壁對(duì)橫波反射也會(huì)產(chǎn)生影響
A.在端角或棱邊會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的反射回波
B.聲束以小角度斜入射至底面時(shí)反射聲束將產(chǎn)生位移
C.與縱波相比，橫波對(duì)表面變化不敏感
D.以上都是
A.14°
B.27°
C.38°
D.49°
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。