A.用直探頭和斜探頭檢測軸類鍛件，可檢測到整個(gè)軸類鍛件全體積
B.檢測時(shí)，聲束入射方向盡可能與鍛件流線方向垂直
C.斜探頭檢測筒形鍛件的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的徑向缺陷
D.軸向檢測時(shí)應(yīng)考慮缺陷定位修正
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A.頻率常數(shù)Nt越大，制作給定頻率探頭的晶片越薄
B.不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不一樣
C.頻率常數(shù)Nt是壓電晶片的厚度與固有頻率的乘積
D.同種壓電材料，制作高頻探頭時(shí)，晶片厚度較小
A.降低
B.升高
C.不變
A.橫波反射率γss很低，縱波反射率γsL較高
B.橫波反射率γss為100%
C.縱波反射率γsL為100%
D.橫波反射率γss很高，縱波反射率γsL較低
A.在有機(jī)玻璃斜楔中產(chǎn)生
B.在晶片上直接產(chǎn)生
C.在有機(jī)玻璃耦合層界面上產(chǎn)生
D.在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生
A.有利于提高分辨力
B.有利于改善聲束指向性
C.有利于發(fā)現(xiàn)較小缺陷
D.以上都可以
最新試題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
單探頭法容易檢出（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
超聲檢測對缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。