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A.過程打點(diǎn)可能出界
B.過程打點(diǎn)不會(huì)出界
C.過程打點(diǎn)一定出界
D.以上都有可能
A.過程一定處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)
B.過程一定沒有特殊原因
C.過程可能有特殊原因
D.以上都對(duì)
A.多個(gè)
B.單獨(dú)
C.成對(duì)
A.檢驗(yàn)一個(gè)樣本是否來自正態(tài)總體
B.若確定是正態(tài)分布，可估計(jì)正態(tài)均值和正態(tài)標(biāo)準(zhǔn)差
C.可用來檢驗(yàn)一個(gè)樣本是否來自對(duì)數(shù)正態(tài)分布
D.用來檢驗(yàn)一個(gè)樣本是否來自二項(xiàng)分布
最新試題
控制計(jì)劃規(guī)定的特殊特性應(yīng)做統(tǒng)計(jì)過程控制—SPC。
在繪制控制圖時(shí)，不管采取何種方法，均應(yīng)注意控制圖應(yīng)能顯示過程受控，否則不能計(jì)算過程能力。
當(dāng)控制計(jì)劃要求對(duì)相關(guān)工序尺寸進(jìn)行SPC統(tǒng)計(jì)過程控制時(shí)，公司相關(guān)部門進(jìn)行圖控制并進(jìn)行過程能力研究。
正確使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)，能達(dá)到早期預(yù)防或及時(shí)提出矯正措施并得以及時(shí)改善的目的。
σ
重要過程事件（如工具變更，機(jī)器修理等）須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。
特殊特性的選擇應(yīng)由企業(yè)按產(chǎn)品/過程中特性的重要程度來制定，并沒有絕對(duì)的正確與否。
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
1924年，美國(guó)的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較，而以時(shí)間順序表示出來的圖形）。通過對(duì)過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
當(dāng)控制圖中有連續(xù)6點(diǎn)上升或下降時(shí)，說明過程處于（）