A.對缺陷回波位于定量線及定量線以上超標(biāo)缺陷判斷其缺陷類型和性質(zhì)
B.對線狀缺陷的自身高度用AVG 方法測量
C.測量缺陷高度方向尺寸時(shí)，無法確定端點(diǎn)衍射波和端部最大回波時(shí)，用6dB 法測高度
D.應(yīng)判定本次檢測的缺陷是否是新產(chǎn)生的或是否有擴(kuò)展。
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A.反射波位于II 區(qū)的缺陷用6dB 法測量其指示長度（反射波只有一個(gè)高點(diǎn)）或端點(diǎn)6dB 法測其指示長度（反射波又多個(gè)高點(diǎn)）
B.反射波位于I 區(qū)的缺陷用絕對靈敏度法測量其指示長度
C.采用2.5MHz K2斜探頭
D.對板厚為8~40mm 的對接焊縫，反射波高位于II 區(qū)的缺陷，允許的指示長度為10mm 或5mm
A.對位于I，II，III 區(qū)的缺陷回波均應(yīng)判斷是否具有裂紋等危害性特征，如不能判斷，應(yīng)增加其它方法綜合評定。
B.用6dB 法測量缺陷指示長度。
C.允許存在未檢測區(qū)域。
D.對較薄板厚對接焊縫可采用一次反射波檢測。
A.聲程距離較大時(shí)，可能將動態(tài)波形I 判為動態(tài)波形II
B.探測面為曲面時(shí)，點(diǎn)狀缺陷回波可能顯示動態(tài)波形II
C.體積狀缺陷也可能顯示動態(tài)波形II
D.線性缺陷也可能顯示動態(tài)波形II
A.按照附錄F 的規(guī)定測定聲能傳輸損耗差。
B.對缺陷進(jìn)行定量檢測時(shí)，以掃查靈敏度測定。
C.用絕對靈敏度法測量缺陷指示長度。
D.指示長度小于10mm 的缺陷按5mm 計(jì)。
A.直探頭檢測波高為φ2mm+5dB 評為II 級，
B.斜探頭檢測波高為φ1×6-6dB 評為II 級，
C.直探頭檢測波高為φ2mm+8dB 評為I 級，
D.斜探頭檢測波高為φ1×6-2dB 評為II 級，
最新試題
若工件材質(zhì)衰減不考慮，則聲程為150mm 直徑為1mm 的球孔與聲程為300mm，直徑為4mm 的球孔回波幅度相差（）。
雙晶直探頭的探測區(qū)為表面下的菱形區(qū)，菱形區(qū)的中心離表面距離隨入射角增大而增大。
現(xiàn)有甲、乙兩臺超聲波探傷儀，某一探頭與甲組合靈敏度余量為52dB，與乙組合后的靈敏度余量為48dB，則甲探傷儀與該探頭組合靈敏度比乙探傷儀與該探頭組合靈敏度高。
當(dāng)從母材側(cè)探測復(fù)合鋼時(shí)，熒光屏上只有始波和另一個(gè)回波，該回波的聲程與母材厚度相當(dāng)，則說明該復(fù)合材料無脫接。
端點(diǎn)峰值法測得的缺陷指示長度比端點(diǎn)6dB 法測得的指示長度要小一些。
鋼焊縫中存在直徑為φ3mm 的兩個(gè)缺陷，一個(gè)為氣孔，一個(gè)為夾渣，用2.5MHZ橫波斜探頭檢測，則該兩缺陷的反射指向性基本相同。
直探頭探測鋼工件時(shí)，當(dāng)工件中聲程等于二分之一近場長度時(shí)，由于聲束軸線聲壓為零，此處的缺陷將探測不到。
機(jī)械品質(zhì)因子Qm越小，則脈沖寬度越小，分辨率就越高。
對奧氏體不銹鋼對接焊縫根部未熔合采用K1斜探頭檢測最合適。
當(dāng)缺陷聲程X=N/2（N 為探頭晶片近場長度）時(shí)，由于此時(shí)主聲束處聲壓為零，故無法檢測。