A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.18dB
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A.增大12dB
B.增大9dB
C.增大6dB
D.增大3dB
A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.9dB
A.近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度與焦距比值越小，聚焦效果越好
B.近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度與焦距比值越大，聚焦效果越好
C.近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度與焦距比值大于1，沒有聚焦作用
D.焦距應(yīng)該選擇在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
A.與聲源面積及波長(zhǎng)成正比，與距離成反比
B.與聲源面積及距離成正比，與波長(zhǎng)成反比
C.與波長(zhǎng)成正比，與聲源面積及距離成反比
D.與聲源面積成正比，與距離及波長(zhǎng)成反比
A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。