A.圖像分辨率
B.圖像不清晰
C.對比靈敏度
D.像素
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A.放射性標(biāo)志
B.報(bào)警裝置
C.工作信號燈
D.安全聯(lián)鎖裝置
A.照射量
B.有效劑量
C.比釋動能
D.吸收劑量
A.按現(xiàn)行檢測標(biāo)準(zhǔn)編制,適用于單位的檢測對象
B.滿足相關(guān)法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn)的要求
C.滿足相關(guān)法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn)要求
D.經(jīng)濟(jì)上合理
A.比例計(jì)數(shù)器
B.電離室
C.半導(dǎo)體檢測器
D.GM計(jì)數(shù)器
A.焦點(diǎn)或射源尺寸
B.黑度
C.增感屏類型
D.射線線質(zhì)
最新試題
衍射時(shí)差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會受到影響。
對于比正??v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。