圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷C探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
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圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷B探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷A探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭示意圖,根據(jù)圖示判斷是以下哪個(gè)測(cè)試項(xiàng)目()
A.折射角
B.入射點(diǎn)
C.入射角
D.探頭前沿
圖是橫波檢測(cè)示意圖。如果按聲程調(diào)整時(shí)基線(xiàn)且已知零件的厚度t和探頭折射角β,則圖中缺陷的深度位置d應(yīng)按以下哪個(gè)公式計(jì)算()
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測(cè)示意圖,圖中缺陷位置對(duì)應(yīng)的聲束是 ()
A.一次波
B.直射波
C.二次波
D.以上都不是
最新試題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
儀器水平線(xiàn)性影響()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
()是影響缺陷定量的因素。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。