圖是測試橫波探頭示意圖,根據(jù)圖示判斷是以下哪個(gè)測試項(xiàng)目()
A.折射角
B.入射點(diǎn)
C.入射角
D.探頭前沿
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圖是橫波檢測示意圖。如果按聲程調(diào)整時(shí)基線且已知零件的厚度t和探頭折射角β,則圖中缺陷的深度位置d應(yīng)按以下哪個(gè)公式計(jì)算()
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測示意圖,圖中缺陷位置對(duì)應(yīng)的聲束是 ()
A.一次波
B.直射波
C.二次波
D.以上都不是
圖是橫波檢測示意圖,圖中缺陷位置在哪個(gè)跨距內(nèi)()
A.0.5跨距
B.1.0跨距
C.1.5跨距
D.2.0跨距
圖是橫波檢測示意圖,圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中,哪個(gè)表示2.0跨距()
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測示意圖,圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中,哪個(gè)表示1.5跨距()
A.A
B.B
C.C
D.D
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低,()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
儀器水平線性影響()。