調節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。

關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。